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AWL系列半導體晶圓缺陷檢測/國產(chǎn)晶圓搬運機是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成，支持4-12寸的晶圓尺寸，可輕松實現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細節(jié)的高清捕捉，可對半導體過程工藝中的關(guān)鍵參數(shù)、缺陷問題進行有效監(jiān)控，是晶圓來料檢測和工藝控制流程缺陷分析的高效利器。
更新日期：2025-11-14
型號：AWL系列
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
AWL046型晶圓缺陷光學檢測設備(半導體晶圓缺陷檢測)是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成。設備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查一個晶圓在經(jīng)過一系列復雜工序后最終變成多個IC單元，期間晶圓需要依賴搬運機在處理站之間執(zhí)行快速、精確的傳送作業(yè)。
更新日期：2025-11-14
型號：AWL046
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
國產(chǎn)晶圓搬運機是由高精度光學檢測顯微鏡搭載全自動晶圓搬運系統(tǒng)組成，設備兼具穩(wěn)定性和安全性，能夠安全可靠的傳送晶圓，適合于前道到后道工程的晶圓檢查。
更新日期：2025-10-25
型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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